(A)APT重构中的Zr元素等值面以及感兴趣的立方体区域; (B)沿立方体区域z轴方向Zr、场场Si和Y元素浓度分布。(C)沿立方体区域z轴方向Y元素浓度分布,变成证明 Y元素在ZrO2/SiO2异相界面的偏析。 (A-C) STEM-EDX成分分析结果,需要由于Y元素含量较低而不能通过STEM-EDX技术准确获取其分布; (D-G)经降噪处理后的STEM-EELS成分分析结果,需要可观察到部分Y元素分布于ZrO2纳米粒子晶内。
律师该研究以题为Three-dimensionalinsightsintointerfacial segregationattheatomicscaleinananocrystallineglass-ceramic发表在国际著名期刊NanoLetters上。介入图2.采用透射电镜技术表征Y元素掺杂ZrO2-SiO2纳米玻璃陶瓷的微观结构。
中国最终展演三维原子探针层析技术(AtomProbeTomography,APT)是近年来兴起的的可以获得材料原子级空间分辨率三维表征方法。
(F) (E)图中对应的二维成分等高线图,婚的契在ZrO2/SiO2异相界面(用白色箭头表示)出现了Y元素偏析和Zr/Si相互扩散层(对应白色)。因此,姻市约市为了在AM钛合金中获得细小的等轴β晶粒,必须充分注意避免β晶粒的热影响粗化,特别是对于包含大量热量累积的大型零件的高效率沉积。
在本研究中,场场对于25℃和800℃基材,单层高度分别约为637~1640μm和787~2738μm。值得注意的是,变成在初始β-晶粒较小、激光能量密度较大和预热温度较高的情况下,晶粒粗化更加严重。
因此,需要相应的理论层厚分别为255~656μm和315~1095μm。另一方面,律师以前所有关于AM钛合金HAZ的研究主要集中在α相的粗化(层带:律师粗大的魏氏α集束)和随工艺参数变化的HAZ,然而,在动力学上与α相的粗化完全不同的AM钛合金HAZ中的β晶粒的粗化被完全忽视了。